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TS600T-PM-Y 偏光顯微鏡冷熱臺冷熱臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、高分子聚合物、液態(tài)晶體、冶金等各種研究領(lǐng)域。冷熱臺可以跟光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅里葉紅外光譜儀、X射線衍射儀等設(shè)備聯(lián)用，用于材料在變溫條件下的研究和表征。

簡要描述：$nTS-PM-Y 系列冷熱臺使用非磁性材料設(shè)計TS系列冷熱臺（-196~1500℃）：包括各種型號的冷臺、中溫?zé)崤_、高溫?zé)崤_、溫控探針臺及定制方案；可使用電極探針，也可以使用定制管殼對樣品進(jìn)行封裝

TS-PM-Y溫控探針冷熱臺可獨立控溫，也可通過上位機(jī)軟件控制，溫度范圍廣，120℃/400℃/600℃/800℃/1000℃可選，可選擇透射光或反射光觀察 探針種類豐富，可根據(jù)用戶需求進(jìn)行定制 軟件拓展性強(qiáng)，可提供LABVIEW等語言的SDK。

TS600-EM-Y 橢偏儀冷熱臺配合偏光顯微鏡使用，樣品位置可XY軸移動，該型號體積小巧輕薄，結(jié)構(gòu)緊湊。 配套：A2101（吸附筆）、A2102（石英片）、A2510（無痕雙面膠）；

TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱臺可以用于搭配聲速測量設(shè)備，進(jìn)行聲速的變溫測量，實現(xiàn)變溫范圍-80到200℃，同時該型號可衍生用于光譜儀積分球等光學(xué)高低溫測試場合；

簡要描述： TS400-R-Y 溫控探針系列專門針對材料電學(xué)測試而設(shè)計的一款產(chǎn)品，溫度范圍為-196~400℃，全程溫度穩(wěn)定性控制0.5℃以內(nèi)，采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。